Verdieping

Tegelijk tasten en testen

8 mei, 2015
Wnt-website
Voortaan kun je met één AFM-naald tegelijk een oppervlak aftasten, de veerkracht meten én de chemische samenstelling bepalen, en dat allemaal met dezelfde resolutie. Zo kun je voor het eerst in één oogopslag het onderlinge verband zien, beloven onderzoekers van Oak Ridge National Laboratory. In ACS Nano publiceerden …

 

Voortaan kun je met één AFM-naald tegelijk een oppervlak aftasten, de veerkracht meten én de chemische samenstelling bepalen, en dat allemaal met dezelfde resolutie. Zo kun je voor het eerst in één oogopslag het onderlinge verband zien, beloven onderzoekers van Oak Ridge National Laboratory.

In ACS Nano publiceerden Olga Ovchinnikova, Gary Van Berkel en collega’s onlangs hun laatste vorderingen. Met de techniek zijn ze al langer bezig. Die komt er op neer dat je de tastnaald van de atomic force-microscoop eerst gebruikt als tastnaald, en hem daarna nog iets sterker aandrukt terwijl je hem verhit. Zo brand je een stukje van het oppervlak; een zuigmondje er naast dirigeert de loskomende ionen naar de massaspectrometer.

Tot nu toe was dat ‘stukje’ beduidend groter dan de minimale afstand tussen twee punten die je met een AFM kunt aftasten. Maar de nieuwste versie, ontwikkeld samen met AFM-microscopenbouwer Anasys Instruments, is zo ver verfijnd dat het weinig meer uitmaakt. De resolutie bij aftasten is nu 390 x 390 nm, bij veerkrachtmeting 781 x 781 nm, en bij massaspectrometrie 690 x 500 nm. In de diepte waarop je meet zit procentueel een veel groter verschil: die is respectievelijk 0, 20 en 110-140 nm.

Het betekent dat je je oppervlak op deze drie manieren in kaart kunt brengen en dat die kaarten allemaal ongeveer hetzelfde niveau van detaillering vertonen. Zo kun je ze onderling tenminste goed vergelijken. In hun jongste publicatie demonsteren de auteurs het aan de hand van een 500 nm dunne polystyreenfilm waar hier en daar wat eilandjes van poly-2-vinylpyridine waren ingebakken; die druppels zie je op alle drie de kaarten op dezelfde plek terug komen.

Van het ministerie van energie (DoE), dat het Oak Ridge-lab runt, heeft Anasys inmiddels subsidie gekregen om het gecombineerde meetprincipe uit te werken tot een commercieel product. Kunststofbedrijven zouden zoiets bijvoorbeeld kunnen gebruiken om te checken of scheurvorming in hun voortbrengsels iets met een licht afwijkende chemische samenstelling ter plekke te maken heeft.

Hoe veel tijd Anasys nodig denkt te hebben om het marktrijp te krijgen, staat er helaas niet bij.

bron: ORNL

 

Nog geen opmerkingen

Meer Verdieping
Zout geeft het startschot
06 okt 2026 — Renée Canrinus-Moezelaar
Ideale habitat voor industriële premières
06 okt 2026 — Jacqueline van Gool
'We gaan dit gewoon doen'
06 okt 2026 — Esther Thole
Tegen de klok
15 sep 2026 — Ruben Boot
C2Weekly nieuwsbrief
weekly

Mis geen enkel bericht met onze nieuwsbrief C2Weekly

Elke woensdag in je inbox: het laatste chemie- en life sciences nieuws uit Nederland en Vlaanderen, aangevuld met analyses, achtergronden en meer!

Inloggen

Nog niet geregistreerd?

Registreer je gratis en ontvang de nieuwsbrief, creëer je eigen profiel en reageer op onze artikelen.

Not registered yet?

Register for free and receive our newsletter.

Inloggen voor leden van de KNCV, KVCV, NBV en NVBMB

  • Log in het met het e-mailadres waarmee je bij je vereniging bekend bent. Weet je niet welk e-mailadres dat is? Kijk dan op welk adres je de digitale nieuwsbrief van je vereniging ontvangt.
  • Als je nog niet eerder ingelogd hebt moet je een nieuw wachtwoord aanmaken. Klik hiervoor op ‘wachtwoord resetten’.